Šifra: |
233841 |
ECTS: | 3.0 |
Nositelji: |
izv. prof. dr. sc.
Vilko Mandić
izv. prof. dr. sc. Fabio Faraguna izv. prof. dr. sc. Dajana Kučić Grgić |
Prijava ispita: | Studomat |
Opterećenje: | |||||||
|
|||||||
Opis predmeta: | |||||||
Pretražna elektronska mikroskopija - teorija i primjeri (SEM, SE, BSE, EDS9, Transmisijska elektronska mikroskopija - teorija i primjeri (TEM, HRTEM, EELS, HAADF), Srodne tehnike (Mikroskopija atomskih sila, Optička mikroskopija) - teorija i primjeri, Tehnologija, konstrukcija i razvoj uređaja pretražne elektronske mikroskopije, Tehnologija, konstrukcija i razvoj uređaja transmisijske elektronske mikroskopije, Tehnologija, konstrukcija i razvoj uređaja srodnih tehnika, Priprema i karakterizacija tipičnih materijala (keramika, metal, plastika) za pretražnu elektronsku mikroskopiju, Priprema i karakterizacija naprednih materijala (nanočestice, nanostrukturirani materijali) za pretražnu elektronsku mikroskopiju, Priprema i karakterizacija materijala za analizu srodnim tehnikama. |
|||||||
Ishodi učenja: | |||||||
|
|||||||
Literatura: | |||||||
|
1. semestar |
D_Obavezni rad - Redovni studij - Kemijsko inženjerstvo i primijenjena kemija |
2. semestar |
D_Izborni - Redovni studij - Kemijsko inženjerstvo i primijenjena kemija |
3. semestar |
D_Obavezni rad - Redovni studij - Kemijsko inženjerstvo i primijenjena kemija |
4. semestar |
D_Obavezni rad - Redovni studij - Kemijsko inženjerstvo i primijenjena kemija |
Srijedom od 8 do 10 uz prethodnu najavu na e-mail.
Lokacija:Prema dogovoru sa studentima. Javiti se na dkucic@fkit.unizg.hr.
Lokacija: